ProSp-STAGE-RT透反射測量支架，由底座、高精密滑軌、載物臺、精密位移臺和2個準直透鏡組成。這個支架可以測量固體樣品的透反射光譜，也可以測量固體、粉末樣品的熒光光譜（配套熒光探頭）。對于反射光譜，可以實現(xiàn)上反射和下反射測量。測量距離可以調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同厚度的樣品

更新時間：2025-10-31

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產(chǎn)品分類

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光譜測量支架

透射與反射測量支架多功能光譜測量支架量子效率測量支架

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產(chǎn)品介紹

ProSp-STAGE-RT透反射測量支架，由底座、高精密滑軌、載物臺、精密位移臺和2個準直透鏡組成。這個支架可以測量固體樣品的透反射光譜，也可以測量固體、粉末樣品的熒光光譜（配套熒光探頭）。對于反射光譜，可以實現(xiàn)上反射和下反射測量。測量距離可以調(diào)節(jié)，以適應(yīng)不同厚度的樣品

應(yīng)用實例1-透過率測量

設(shè)備清單：

USB2000+光譜儀

SPL-HL鎢燈光源

ProSp-STAGE-RT透反射測量支架

SPLF400-2-VIS光纖（2）

應(yīng)用實例2-反射率測量

設(shè)備清單：

USB2000+光譜儀

SPL-HL鎢燈光源

ProSp-STAGE-RT透反射測量支架

QR400-7-VIS-NIR反射探頭

WS-1標準反射板

參數(shù)指標

規(guī)格	ProSp-STAGE-RT
底座尺寸	180mm直徑
樣品區(qū)域尺寸	130mm直徑
重量	4KG
粗調(diào)范圍	0-100mm可調(diào)
精調(diào)范圍	0-40mm,10um精度
光譜范圍	200-2500nm
臺體材料	陽極氧化鋁